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分析金属光谱仪 IN-SPECTOES火花光发射CCD
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产品规格型号
- 类型
- OES, 火花光发射, CCD, 原子散射
- 应用领域
- 用于分析, 实验室, 工艺流程, 测量, 工业, 专业用途, 用于铸造车间, 用于光谱分析, 用于冶金产业, 经济型, 科研应用, 用于分析金属, 质量控制, 用于金属加工, 化学检测, 用于光学仪器, 非民用, 用于研究开发, 石油化学, 用于光谱分析, 生产, 检查, 用于金属加工
- 配置
- 紧凑型, 台式
- 探测器类型
- CCD
- 其他特性
- 高解析度, 坚固, USB, 高精度, 多通路, 光栅, 超快速, 预校准, 触摸屏, 双
- 波长
最少: 170 nm
最多: 420 nm
- 长度
650 mm
(25.59 in)- 宽度
610 mm
(24.02 in)- 高度
360 mm
(14.17 in)
产品介绍
全新设计的金属分析仪再次为 Belec 树立了新的标准。全新的 Belec IN-SPECT 具有独特的双光谱仪光学系统，可确保无与伦比的性能，同时显著降低该类仪器的维护成本。
它既可用于铸造厂的传统熔炼控制，也可用于货物接收、回收或生产控制的常规质量保证。
Belec IN-SPECT 是一款真正的多功能仪器：
测量程序的数量几乎没有限制，几乎可以满足所有要求，而且价格极具吸引力。
采用最新的 7GSO 系统，性能卓越
(第七代光谱仪光学系统）
专为光谱应用开发的最新型探测器
结构紧凑
便于维护和操作的设计
检测限低
高精度
用户友好型软件 Belec Win 21
可自由接入的火花支架，适用于较大或笨重的样品
新颖美观的设计
由合格人员提供安装和操作培训
多种适配器可供选择，适用于不同尺寸和形状的样品
双光谱仪，紫外侧氩气冲洗
3600 线/毫米的蔡司光栅
波长范围170 - 420 纳米
MCDC 系统（多矩阵通道漂移校正）
最大频率400 赫兹频率
单极放电
开放式火花架，氩气消耗量最低、
近乎免维护
用于电线、管道等的适配器
气动样品夹
系统集成工业计算机系统，配备 Intel© ATOM® 双核 D525（1.8 GHz，64 位）处理器
随机存取内存 4 GB DDR3 SD RAM
硬盘 250GB SATA SSD.M2（固态硬盘）
带 VGA 输出的 Intel© 板载图形处理器
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