光学显微镜 CW2010-DIC

测量微分干涉差

特点： 1. 转换器：五孔，每个孔调整对焦和调度中心，消除误差，确保精度。 （独家专利） 2.Z 轴采用分割图像原理观察测量，结合精密 Z 轴导轨可以保持，有效保证测量精度。 3. DIC 棱镜可以水平和垂直移动，由两个 方向线性偏振光形成的浮雕图像将产生强烈的三维效果。 这不能在正常的光学系统中实现。 4. 长工作距离 5. 光源可选择 LED 或光纤冷光源 6. 光学系统的所有部件和组件均为进口元件。 由国外技术工程师看门员、调试和技术控制包技术参数 应用： CW2010-DIC 是 Infinity 光学系统，适用于芯片封装质量测试、微小的突起和微 小的划痕的观察和测量。 广泛应用于电子、材料、化学等领域的研究和测试。 是 研究机构和大学研究和教学的理想工具。