检查测绘系统 E142晶圆
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产品规格型号
- 功能
- 检查
- 技术参数
- 晶圆
产品介绍
单个设备可追溯性的关键 - 为无墨生产的下一个阶段做好准备。集成电路越来越复杂、越来越密集、越来越小，质量也越来越重要，但却有一个小小的不足。仅仅看一眼，你无法识别它们是否可用。这就是基底映射 E142 的作用所在。E142 将物理世界的虚拟地图一样的表现形式应用于许多常见的基底，例如晶片、带材和托盘。瑞士Besi公司在Esec Die Bonder 2100上实现了基于E142的带材映射。
带材识别
-能够读取小至100微米点的二维数据矩阵
-可读取 CODE39 条形码，最小可达 200 微米条形码
-首选 StripID 位置：靠近前缘或后缘
-符合 E142 标准的条形码映射结构
-符合 E142.2 SECS II 通信标准
-可配置的板带映射下载和上传
-可配置生成 BinCodeMap
-可配置传输图生成
仍可通过 Stream12 进行晶圆映射
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