超低杂散光光纤光谱仪 Exemplar® Plus LS
荧光车尔尼-特纳UV-Vis-NIR紫外-可见-近红外

超低杂散光光纤光谱仪 - Exemplar® Plus LS - B&W TEK - 荧光 / 车尔尼-特纳 / UV-Vis-NIR紫外-可见-近红外
超低杂散光光纤光谱仪 - Exemplar® Plus LS - B&W TEK - 荧光 / 车尔尼-特纳 / UV-Vis-NIR紫外-可见-近红外
超低杂散光光纤光谱仪 - Exemplar® Plus LS - B&W TEK - 荧光 / 车尔尼-特纳 / UV-Vis-NIR紫外-可见-近红外 - 图像 - 2
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产品规格型号

类型
超低杂散光光纤, 荧光, 车尔尼-特纳, UV-Vis-NIR紫外-可见-近红外
应用领域
工艺流程, 用于分析, 工业用途, 科研应用, 质量控制, 生物制药应用, 用于光谱分析, 用于OEM, 荧光应用, 用于显微光谱学
配置
紧凑型, 模块化
探测器类型
CCD
其他特性
高敏感度, USB, 多通路, 光栅, 高速, 全光谱
波长

最多: 1,100 nm

最少: 180 nm

产品介绍

Exem...r® Plus LS 是一款高性能的智能光谱仪,采用了畸变校正凹面全息光栅,可有效消除杂散光。它采用了高灵敏度的 TE 冷却背薄层 (BT) CCD 检测器,通过线性相加实现高动态范围。其长焦距与高量子效率探测器相结合,可在整个 180-1100nm 光谱范围内提供卓越的数据质量。Exem...r Plus LS 具有高信噪比,非常适合低照度应用,尤其是紫外范围。它还具有内置快门功能,即使在照明状态下也能进行暗扫描测量。作为 Exem...r 产品系列的一员,它具有板载数据处理和 USB 3.0 通信功能。Exem...r 产品线针对多通道操作进行了优化,具有超低触发延迟和栅极抖动的特点。 标准光谱配置范围为 180 纳米至 1100 纳米,分辨率为 0.6 纳米至 6.0 纳米。可为 OEM 应用提供定制配置。 应用: 低照度紫外、可见和近红外:光谱分析/光谱辐射计/分光光度计 荧光光谱 吸收光谱 辐照度测量 在线过程监控 LCD 显示屏测量 生物医学光谱 太阳能模拟表征 OEM 系统集成

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。