涂层厚度分析仪 Terra980

金属工艺流程X射线

镀层厚度测量在加工行业的表面处理环节中起着重要的作用，是确保产品达到优等质量的必要手段。镀层的厚度与生产成本密切相关，鉴于某些金属市场价格的波动，如果镀层太厚对于加工企业来说很容易造成损失。反之，镀层太薄则将无法达到性能指标或外观要求而造成返工或退货。基于X射线荧光(XRF)的镀层厚度测量是一种被广泛接受和被业界认可的分析技术。 新一代Terra980手持式XRF镀层厚度分析仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界领先。无论是生产过程中对镀层厚度的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，Terra980都能够满足您的检测的需求。Terra980分析镀层厚度具有快速、准确、非破坏、非接触、可进行多层合金测量，高效率、高再现性等优点，可以帮助用户实现产品质量管理并节约成本。 使用优势 快速易用 实现镀层厚度及成分分析的秒级检测速度，体积小巧，便于携带; 高精确度 采用进口陶瓷封装微型X射线源和高性能半导体探测器，有效提高测试精度; 操作简单 直观用户见面，几乎不需要培训，配备大尺寸高清晰触摸显示屏; 智能操控 全自动智能控制，一键式测量; 一机多用 可在未知镀层成分时快速分析镀层厚度及组成，轻松针对标准镀层实现镀层分析标准化; 坚固耐用 坚固耐用、符合IP54标准，防水防振，可在恶劣环境下工作.