监控软件 AvaSoft-Thinfilm

质量控制数据库

包括在我们的薄膜包中，AvaSoft-Thin-Film软件是一个独立的软件包，用于控制系统并对薄膜涂层进行测量。 该软件从已知光学参数的光学透明层的反射干涉光谱中计算出涂层厚度。AvaSoft-Thin-Film软件中实现了两种不同的薄膜计算方法：快速傅里叶变换（FFT）和最佳拟合优化算法（匹配光谱）。FFT方法决定了干扰模式的频率；这主要用于厚层。匹配频谱优化确定了各种厚度计算的最佳拟合。拟合参数是可以调整的，用于监测拟合质量和加快数据处理速度。 软件中包括一个广泛的基底和涂层的光学常数'n'和'k'的数据库。该数据库包括用于重要应用领域的基材和涂层材料，如半导体和光学涂层。 AvaSoft-Thin-Film还提供过程控制和导出到Excel的附加模块。