自动相关仪 Carpe
用于显微镜检查

自动相关仪 - Carpe - A.P.E - 用于显微镜检查
自动相关仪 - Carpe - A.P.E - 用于显微镜检查
自动相关仪 - Carpe - A.P.E - 用于显微镜检查 - 图像 - 2
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产品规格型号

技术参数
自动, 用于显微镜检查
波长

最多: 2,000 nm

最少: 700 nm

产品介绍

卡普是检查光学显微镜系统中短激光脉冲持续时间的一个好方法。 NIST可追溯校准 实验室和制造商经常面临着系统地建立一个不间断的校准链,以指定的基准。所有APE自动跟踪仪型号都按照NIST(美国国家标准与技术研究所)测量可追溯性规范,按照可追溯标准进行校准。每一个pulseCheck都提供一份打印的和签名的校准证书。 显微镜下的主脉冲展宽 Carpe自动相关仪测量样品位置和显微镜输入处的脉冲持续时间。通过比较在这两个点获得的脉冲宽度,您可以计算出脉冲拓宽效应。这种效应是由显微镜光学器件的色散引起的,但也在很大程度上取决于进入的激光束的脉冲宽度。 样品位置的功率检测 样品位置的功率检测支持系统和定量的研究,这些研究探讨了激光功率如何影响样品或探针的荧光寿命。 优化显微镜成像 通过研究激光脉冲持续时间、功率和显微镜光学器件的色散的影响,你可以在相关点上微调和优化显微镜成像。这些测量也可以使用大NA(数值孔径)或浸入式镜头进行。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。