荧光光谱学软件 XRF-FP

XRF-FP 是用于 X 射线荧光定量分析软件包。 具有基本参数 (FP) 的 XRF 分析将元素峰值强度转换为元素浓度或薄膜厚度。 它处理使用 Ampteks 探测器和信号处理器测得的原始 X 射线光谱，以获得 (1) 元素峰值强度 (即对应于每个元素的峰强度)，然后 (2) 元素浓度或薄膜厚度。