老化试验箱 PCT series
用于电子卡片用于半导体用于电子设备

老化试验箱 - PCT  series - AI SI LI (China) Test Equipment Co., Ltd - 用于电子卡片 / 用于半导体 / 用于电子设备
老化试验箱 - PCT  series - AI SI LI (China) Test Equipment Co., Ltd - 用于电子卡片 / 用于半导体 / 用于电子设备
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
 

产品规格型号

测试类型
老化
应用产品
用于电子卡片, 用于半导体, 用于电子设备
配置
带滑轮
选项和配件
双区
其他特性
加速式
温度

最少: 100 °C
(212 °F)

最多: 135 °C
(275 °F)

产品介绍

应用。 压力加速老化试验箱(PCT)广泛适用于多层电路板、IC密封包装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、钕铁硼、稀土、磁铁等产品的密封性能测试,可以测试出上述产品的抗压性和气密性。 安全装置。 1.罐子的安全装置。如果内箱没有关闭,机器就不能启动。 2.安全阀。当内箱的压力高于机器的承诺值时,它将自我解脱。 3.双重过热保护装置。当内箱温度过高时,它将报警,并自动切断加热电源。 4.盖板保护。内箱的盖子是由铝合金制成的,可以保护工人免受烫伤。 特点。 1.自动加水功能,测试时水短时自动加水。 2.自动操作,测试过程结束,使用方便。 3.温度控制。LED数字温度控制器可对测试温度进行准确的设定、控制和显示。 4.LED数字计时器,当内箱的温度达到设定值时,即开始计时,以保证试验的完成。 5.准确的压力:温度图表始终显示内箱的压力和相对湿度。 6.水装置自动排出未饱和蒸汽,以达到最佳的蒸汽质量。 7.一体化硅胶门垫,气密性非常好,运行寿命长。 8.内箱经镜面抛光,美观大方,无污染。

---

* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。