压力密封测试仪 EP60

USB

电子元件暴露在灰尘、污垢和蒸汽中会对产品造成负面影响。这些负面影响可能表现为腐蚀、短路或性能问题。为了防止出现这些结果，应对电子产品进行泄漏测试。这些测试包括 IP67 和密封性能测试。如果在压力衰减测试中无法对产品进行加压，则可对产品外部的控制体积进行加压，并测量该体积与产品之间的泄漏。使用 EP60- IP 标准泄漏测试套件可进行 IP67、IP68 和气密性测试。该产品与 BT4000 系列设备配合使用，具有快速、可报告和精确的特点。 适用于所有产品 通过测试所有产品，避免潜在的性能问题。 经济实惠 摆脱水浸法的不确定性和废弃产品的成本。 可报告 以所需格式创建的测试报告可通过物联网进行远程监控，并通过 USB 传输到电脑和以 Excel 格式进行分析。