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QATMISO 6507硬度计
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负载: 0.002 N - 613.1 N
QATM Qness 60 EVO系列将显微硬度测试带到一个新的高度: 最新一代高端实验室设备将两大功能完美结合在一起–硬度测试和显微分析,实现最大的操作便利性。配备彩色摄像头的革命性的光学系统提供了可重现的和可靠的测试结果。 „M“ 型号手动进行操作并为任意尺寸的工件提供单样品测试和金相分析的高度灵活性。该型号适合样品数量不多但需要高质量测试设备的应用场合。 优点 • 包括ASTM+DAkkS认证的维氏金刚石压头 • ...
QATM
负载: 0.002 N - 613.1 N
QATM Qness 60 EVO系列将显微硬度测试带到一个新的高度: 最新一代高端实验室设备将两大功能完美结合在一起–硬度测试和显微分析,实现最大的操作便利性。配备彩色摄像头的革命性的光学系统提供了可重现的和可靠的测试结果。 创新型的 „A“ 型号提供完美的自动化测试及所有3轴系统的高精度定位控制。适用于上千测试点的灵活的XYZ进程可以无需操作人员介入即可实现大批量样品的测试。 • ...
QATM
负载: 0.5 kgf - 187.5 kgf
... Qness 200的测试高度高达250mm,喉深为238mm,非常适合中小型部件。 ETHERNET工业彩色摄像头 高品质CMOS 500万像素摄像头定义了当前的工业标准。与其他相机系统不同,在此可以实现更高的传输稳定性。此外,电脑和硬度测试设备可以单独设置甚至进行远距离设置。 优化的测试头设计 多种多样的夹具和装配工具选择,能够满足各类样品对辅助装夹的需求。 可选的透明防撞装置在预防设备上测试区域不受来自外部破坏的同时,还能确保用户可以不受限制地去观察测试空间。 载物台高度调节 ...
QATM
负载: 0.5 kgf - 187.5 kgf
在Qness 200产品的开发过程中,我们特别注意了以下事项:以最小的努力获得最大化的性能。 全自动XY试台,保证高精度硬度测试。它是全自动重复测试和序列测试的理想选择。配有彩色摄像头的光学系统每次都能提供可重复和可靠的结果。 操作通过外部PC系统基于用户友好的Qpix Control 2硬度测试软件进行,具有诸如自动高度调节,非接触式探测或CAD兼容性等优点。 优点 • 自动3轴控制 • ...
QATM
负载: 0.3 kgf - 3,000 kgf
... Qness 250/750/3000 EVO系列C和CS版本的名称来源。 在硬度测试领域,几十年来测试头固定并上/下移动丝杠是经过验证的理念,是小测试件的理想选择 -"C" 型工件测试高度可达395 mm,即使是紧凑的型号"CS" 最大测试高度也达175 mm。 QATM用EVO型号重新定义了通用硬度测试: 极短的测试周期时间和最高的精度是产品研发的主要关注点。 更为快速的测量方法切换 布氏,努氏,洛氏或是维氏硬度测试?旋转轴角度为15°的精密转塔设计,可保证在一个独特且紧凑的单元内为8 ...
QATM
负载: 0.3 kgf - 3,000 kgf
“M”版本固定工件支撑和超大测试台区域使得甚至对最大的工件也可以进行硬度测试。 测试头通过旋转位于机器前部的手轮来进行手动移动。 测试头的轴承部分是为顺畅运转而特别设计的,用最小的力就可以进行操作。最大测试高度是510 mm。 可旋转载物台 独特的便利性操作,适用于大型,形状笨重和成型部件和工件。 M和E型选件的工作台可以倾斜至5°(包括内置夹具),无需额外的工件装夹! 旋转型压头保护罩 对于无法使用压头保护罩夹持的样品,无需耗费时间来更换/拆卸保护罩。只需要手动或者电动控制来将保护罩升起或者放下 ...
QATM
负载: 0.3 kgf - 3,000 kgf
一款适用于所有目的的硬度计: 不管是在实验室还是在粗糙的生产环境种操作。 固定的工件支撑和超大的测试台区域甚至允许对最大的工件进行硬度测试。 在"E"版本, 测试头通过集成的异步电机可以方便,动态地进行控制。 任何尺寸的工件, 重量高达3500 kg, 可以在设备上牢固夹持。最大测试高度为510 mm。 更为快速的测量方法切换 布氏,努氏,洛氏或是维氏硬度测试?旋转轴角度为15°的精密转塔设计,可保证在一个独特且紧凑的单元内为8位转塔提供空间。三面封闭形状的压头保护罩可确保在测量点处固定工件 ...
QATM
负载: 0.3 kgf - 3,000 kgf
CA和CA+版本的Qness 250/750 EVO 硬度计系列将久经验证的"C" 型机架理念和精确的自动元素结合在一起。 适用于同样测试高度工件全自动测试序列和的在线硬度测试。拥有各种配置可能性,比如8位转塔将“客户定制”提升到一个新的水平。 • 特有的„C“型机架 • 通过操作自如的滚动轴承丝杠进行手动高度调节 • 带高精度XY载物台的全自动测试 • 适用于高度一致性的应用 • ...
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