Nikon Metrology电子元件测量系统

... 高速度和高精度相结合，可以更快地完成测量任务。 VMZ-S系列具有高精度和高速测量功能，可满足日益增长的复杂需求，也可进行广泛应用。 6种光学变焦系统 该系统从零开始设计，利用专门设计的尼康光学系统提供高精度测量。 高速高度测量 高精度、高速高度测量通过高精度透镜激光自动对焦实现，能够以每秒1000点的速度进行高速扫描。 测量困难样本的能力 利用尼康独家的照明配件，可以轻松测量难测的边缘和特征。 不间断自动测量 即使部件定位发生变化，也可以实现精确测量。

iNEXIV VMA系列具有大视场、长工作距离和宽XYZ行程，为各种3D部件的自动测量提供超强适用性。 通过宽视场进行各种测量应用 iNEXIV VMA系列提供3大类机型，带有宽视场光学器件和接触式探头接口，是使用视觉和接触式测量的各种工业测量、检查和质量控制应用的理想选择。 长工作距离 73.5 mm长工作距离。最适用于高度变化大、凸台高、细孔、深孔等的深度测量。 接触式测量（选配） 能够测量不可见特征的尺寸和角度，例如零件侧面的孔。

iNEXIV VMA系列具有大视场、长工作距离和宽XYZ行程，为各种3D部件的自动测量提供超强适用性。 通过宽视场进行各种测量应用 iNEXIV VMA系列提供3大类机型，带有宽视场光学器件和接触式探头接口，是使用视觉和接触式测量的各种工业测量、检查和质量控制应用的理想选择。 长工作距离 73.5 mm长工作距离。最适用于高度变化大、凸台高、细孔、深孔等的深度测量。 接触式测量（选配） 能够测量不可见特征的尺寸和角度，例如零件侧面的孔。

iNEXIV VMA系列具有大视场、长工作距离和宽XYZ行程，为各种3D部件的自动测量提供超强适用性。 通过宽视场进行各种测量应用 iNEXIV VMA系列提供3大类机型，带有宽视场光学器件和接触式探头接口，是使用视觉和接触式测量的各种工业测量、检查和质量控制应用的理想选择。 长工作距离 73.5 mm长工作距离。最适用于高度变化大、凸台高、细孔、深孔等的深度测量。 接触式测量（选配） 能够测量不可见特征的尺寸和角度，例如零件侧面的孔。

... /高分辨率3D检测。 突破性的多功能共聚焦影像测量系统 融合了共焦技术，具有15倍变焦的明视野和激光自动对焦。 无论需要什么样的几何测量，二维或三维，检查和评估都异常快速和准确。 共焦光学系统可实现清晰显示，便于准确检测高对比度样品边缘。 精细凸点和基板图案 在同一视场内结合15倍变焦明场图像的2D测量和3D高度测量，可以实现多样化测量。 探头卡 可以根据位置数据一键式地进行编程。可以使用独家的图像处理工具自动测量探头卡上的XYZ坐标和共面接触探头销。 精密PCB ...

... /高分辨率3D检测。 突破性的多功能共聚焦影像测量系统 融合了共焦技术，具有15倍变焦的明视野和激光自动对焦。 无论需要什么样的几何测量，二维或三维，检查和评估都异常快速和准确。 共焦光学系统可实现清晰显示，便于准确检测高对比度样品边缘。 精细凸点和基板图案 在同一视场内结合15倍变焦明场图像的2D测量和3D高度测量，可以实现多样化测量。 探头卡 可以根据位置数据一键式地进行编程。可以使用独家的图像处理工具自动测量探头卡上的XYZ坐标和共面接触探头销。 精密PCB ...

... 扫描激光器。该系统设计用于提供极高精度测量。 NEXIV系列的最高精度 由于其独家的设计和结构，VMZ-H达到了NEXIV系列中的最高精度。 5种光学变焦系统 有5种类型可供选择，以满足不同的视场和分辨率要求。 快速高度测量 高精度、快速高度测量通过高精度透镜激光自动对焦实现，能够以每秒1000点的速度进行快速扫描。 测量困难样本的能力 利用尼康独家的照明配件，可以轻松测量难测的边缘和特征。 不间断自动测量 即使部件定位发生变化，也可以实现精确测量。