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Nikon Metrology暗视野显微镜
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重量: 17 kg
长度: 490 mm
宽度: 251 mm
从研究到常规的所有应用都得到解决。 CFI60-POL是光学性能优良的偏光专用物镜。偏光图像即可通过目镜观察,也可通过尼康数码相机拍照。LV100N POL具有丰富的偏光专用附件,可应对多种偏光研究需求;Ci-POL是紧凑的透射偏光显微镜。 尼康ECLIPSE LV100N POL和Ci-POL 可观察矿石切片,检查具有偏光特性物质的分布与组成。 尼康CFI60-POL系列物镜 具有高数值孔径、长工作距离特点的偏光物镜。 透射和反射照明 LV-UEPI-N为反射照明器,用于为反射偏光提供照明 ...
Nikon Metrology
倍率: 50 unit
重量: 45 kg
这一系列的显微镜是检查硅片、显示屏等大型样品的理想选择。 用于检查大型样品的高级显微镜 采用尼康CFI60-2光学系统设计,成像清晰;可搭配数码相机。 尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D) 用于硅片(L200N系列为200mm,L300N系列为300mm)、分划板和其它大型平板类电子零部件的光学检查。 尼康CFI60-2光学系列 尼康的创新设计,支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光(POL)、微分干涉(DIC)镜检,以及双光束干涉测量。 ...
Nikon Metrology
重量: 45 kg
这一系列的显微镜是检查硅片、显示屏等大型样品的理想选择。 用于检查大型样品的高级显微镜 采用尼康CFI60-2光学系统设计,成像清晰;可搭配数码相机。 尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D) 用于硅片(L200N系列为200mm,L300N系列为300mm)、分划板和其它大型平板类电子零部件的光学检查。 尼康CFI60-2光学系列 尼康的创新设计,支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光(POL)、微分干涉(DIC)镜检,以及双光束干涉测量。 ...
Nikon Metrology
重量: 8.7 kg
长度: 362 mm
宽度: 251 mm
这一系列半导体显微镜采用纯反射照明,支持的镜检方式有:明场、暗场、微分干涉、偏光、荧光、双光束干涉,可搭载数码相机,常用于半导体、集成电路及其它各种材料的检查。 模块化设计、有电动型与手动型 采用尼康CFI60-2光学系统设计,成像清晰;可搭配数码相机拍照;模块化设计,方便应对各种功能扩展。 尼康ECLIPSE LV150NA和LV150N 主要用于半导体、工业材料和零部件检查,以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计,支持实现清晰的、高对比度的明场、 ...
Nikon Metrology
重量: 8.6 kg
长度: 362 mm
宽度: 251 mm
这一系列半导体显微镜采用纯反射照明,支持的镜检方式有:明场、暗场、微分干涉、偏光、荧光、双光束干涉,可搭载数码相机,常用于半导体、集成电路及其它各种材料的检查。 模块化设计、有电动型与手动型 采用尼康CFI60-2光学系统设计,成像清晰;可搭配数码相机拍照;模块化设计,方便应对各种功能扩展。 尼康ECLIPSE LV150NA和LV150N 主要用于半导体、工业材料和零部件检查,以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计,支持实现清晰的、高对比度的明场、 ...
Nikon Metrology
重量: 9.5 kg
长度: 613 mm
宽度: 251 mm
... LV100NDA和LV100ND 同时带有反射和透射照明的显微镜,用于工业材料和零部件的检查,以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计,支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、偏光(POL)、微分干涉(DIC)镜检,以及双光束干涉测量。 尼康Digital Sight数码相机 尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照,并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。 多种镜检方式 反射照明下可选择的镜检方式有 ...
Nikon Metrology
重量: 9.5 kg
长度: 657 mm
宽度: 251 mm
... LV100NDA和LV100ND 同时带有反射和透射照明的显微镜,用于工业材料和零部件的检查,以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计,支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、偏光(POL)、微分干涉(DIC)镜检,以及双光束干涉测量。 尼康Digital Sight数码相机 尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照,并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。 多种镜检方式 反射照明下可选择的镜检方式有 ...
Nikon Metrology
倍率: 1 unit - 100 unit
重量: 26 kg
长度: 295 mm
采用创新的箱体型外观、模块化设计、反射照明的研究用倒置金相显微镜,支持多种镜检方式,可搭配数码相机,广泛应用于材料研究。 符合人体工学的科研用高级倒置金相显微镜 采用尼康CFI60-2光学系统设计,成像清晰,支持明场、暗场、偏光与微分干涉等多种镜检,可搭配数码相机拍照,集多种功能与一身。 尼康ECLIPSE MA200 采用反射照明,主要用于材料研究。 尼康CFI60-2光学系列 尼康的创新设计,支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、偏光(POL)、微分干涉(DIC)镜检。 ...
Nikon Metrology
倍率: 5 unit - 100 unit
重量: 14 kg
长度: 271 mm
从研究到常规的所有应用都得到解决。 CFI60-POL是光学性能优良的偏光专用物镜。偏光图像即可通过目镜观察,也可通过尼康数码相机拍照。LV100N POL具有丰富的偏光专用附件,可应对多种偏光研究需求;Ci-POL是紧凑的透射偏光显微镜。 尼康ECLIPSE LV100N POL和Ci-POL 可观察矿石切片,检查具有偏光特性物质的分布与组成。 尼康CFI60-POL系列物镜 具有高数值孔径、长工作距离特点的偏光物镜。 透射和反射照明 LV-UEPI-N为反射照明器,用于为反射偏光提供照明 ...
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