Malvern Panalytical衍射仪

... ，该多功能X射线衍射仪的“MultiCore”多核光路系统，无需人工干预即可实现多种类的不同测量。 Empyrean 锐影具有在一台仪器上测量多种类样品的能力，无论是粉末、薄膜还是纳米材料与固体物体。 概述 Empyrean 锐影能确保为每个样品类型提供稳定可靠的数据质量。 每个样品的高数据质量 Empyrean 锐影能够帮助用户更好地准备同步加速器光束时间。 Empyrean 锐影的样品台和光学组件库允许以多种方式展开应用：从简单地将一些狭缝和分析软件添加到标准衍射几何，到使用专用光学器件 ...

... 1 是马尔文帕纳科 Empyrean 锐影 X 射线衍射系统一员。 作为对称 Johansson 单色器，Alpha-1 提供具有高分辨率、不对称峰、低背景的数据，符合结构分析需求。 Alpha-1 的灵活性关键在于其对我们 PreFIX（预校准且可快速切换的 X 射线）技术的运用。 这个运动安装系统适用于光学器件、样品台、射线管套，能让衍射仪在几分钟内完成重新配置又无需重新组合。 高分辨率 ...

Aeris X 射线台式衍射仪将给您留下深刻印象，数据质量和数据采集速度目前只有在大功率系统上才能实现。 这个小巧的仪器结合了简单的测量与一步样品装载装置，以及一个直观简洁的用户界面，通过其内置触摸屏和直观软件，用户可以无障碍地使用这款仪器。您可以享受这个流畅的过程 – 从样品装载到结果输出，只需一个按钮操作。 Aeris 专为低拥有成本而设计，可根据特定市场的需求提供 4 种版本：研究版、水泥版、矿产版和金属版。 所有版本均支持自动化选项，以满足您的处理量要求。 提升投资回报的解决方案 ...

马尔文帕纳科新一代 X'Pert³ MRD 高分辨X射线衍射仪其可靠性的增强及性能的改进提高了分析能力，提供一体化解决方案来满足不同需求和应用： • 半导体和单晶晶圆：倒易空间探索、摇摆曲线分析 • 多晶固体和薄膜：织构分析、反射测量 • 超薄薄膜、纳米材料和非晶层：掠入射物相鉴定、面内衍射 • 非常温条件下的测量：随温度和时间变化的峰高 X'Pert3MRD 经过专门设计，符合现代材料研发实验室的要求。X'Pert3MRD ...

使用我们专有的扫描方法，在几秒钟内精确测定整个晶向定位。DDCOM 效率高、能耗低、运行成本低，是研究和工业应用的理想选择。 概览 动动手指即可实现精度高达0.01°的超快晶向定位设备。DDCOM获得可靠结果的速度比传统方法快 100 倍以上，由于采用了从底部测量的结构设计，还能节省更多的检测时间。这款拥有出色多功能性的仪器采用了风冷X射线光管和便携式设计，可确保降低运行成本、尽可能提高便利性，是质量控制、样品标记和研究应用的理想选择。 特点和优点 高速高精度测量 我们专有的扫描方法只需测量一次，即可收集测定晶向定位所需的所有数据，并在几秒钟内（单次旋转）提供精确的结果。 ...

SDCOM 能够测量尺寸小至 1 mm 的晶体，采用方位扫描方法，只需测量一次，不到几秒钟，即可精确测定单晶的完整晶面取向。SDCOM 适用于研究和生产质量控制，功能多样且易于使用，可轻松适应各种晶圆和晶棒流程步骤，无需水冷却。 概览 快速而精确的晶向定位测量，能够轻松实现 - 诚意向您推荐 SDCOM，小巧且用户友好的XRD。方位扫描方法可实现高速型测量，不到五秒钟即可返回结果。 SDCOM 提供高达 0.01o 的最高精度，且配有多种样品夹具和转移工装（包括标记晶体方向的选项），这款小巧且易于使用的产品是晶圆加工和研究领域各种应用的理想解决方案。 ...

Omega/Theta XRD 在测定晶向方面具有极高的精度和速度。Omega/Theta XRD 具有条形码阅读器和晶体堆垛支架等多种工艺配件，可容纳重量达 30 kg、长度达 450 mm 的一系列样品，并且能在短短 10 秒内返回结果。它是定位好的晶向转移至加工工具的可靠伙伴。 概览 Omega/Theta XRD是一款具备前瞻性且非常可靠的工具， 用于在多变的半导体领域确定晶体取向，其市场领先的精度、极快的测量速度和高端的构建质量与自动化的力量相结合，能够确保满足任何工艺流程的需求。Omega/Theta ...

Wafer XRD 200 是一款高速、高精度的自动化晶圆分拣系统，可根据晶向定位和晶圆几何结构参数以及多种附加选项进行分拣。 概览 Wafer XRD 200 是一款用于晶圆生产和研究的全自动高速 X 射线衍射平台，将带给您前所未有的使用体验。 Wafer XRD 200 可在几秒钟内提供各种基本参数的关键数据，如晶向定位和电阻率、几何特征（如 V 槽和平边）、距离测量等。精心设计，只为无缝融入您的工艺生产线。 特点和优点 采用专有扫描技术实现高速高精测量 该方法只需测量一次晶圆即可收集测定晶向定位所需的所有数据 ...

工业自动化的强大功能与我们的新一代X射线衍射技术相结合。Wafer XRD 300 是一种用于晶向定位和晶圆几何控制的高速、高精度测量模块。 概览 了解 Wafer XRD 300：用于300mm晶圆生产的高速X射线衍射模块，可提供晶体取向和几何特征（如缺口、定位边）等各种重要参数的关键数据，能与您的工艺生产线完美结合。 特点和优点 采用我们的专有扫描技术实现高速高精度测量 这种方法只需测量一次，就能收集测定晶向定位所需的所有数据。测量精度高、测量时间短，仅需几秒钟时间。 ...

您的专业解决方案，用于晶棒、铸锭和切片的全自动在线晶向定位处理、加工和测量。XRD-OEM 针对极端环境进行了性能优化，是一种强大的解决方案，能够提高工作效率、确保质量控制并优化生产工艺。 概览 XRD-OEM 是您生产工艺的变革者。这款X射线衍射仪可在研磨和切割机的苛刻环境中使用，其行业标准接口可与任何加工系统无缝集成。XRD-OEM 提供晶棒、铸锭或切片的晶向测定，能够在平面和圆周上进行测量，而V 槽的光学测量，可确保在线锯或研磨流程之前对样品进行精确的预对准。 特点和优点 小巧， ...