Malvern Panalytical测量光谱仪

无论生产地点在哪里，您的客户都会要求聚合物性能优越的一致性。 Epsilon 4 是一款能量色散型 X 射线荧光 (EDXRF) 台式光谱仪，用于提供了优越的重复性和准确性元素分析，可满足您的客户的一致性要求。 易于使用的测量程序，有限的公用设施要求和独特的校准解决方案，可在生产线附近和多个生产现场进行可再现的分析。 Epsilon 4 可提供长达数月的可靠结果，同时无需重新校准， 轻松保证产品质量。 原材料检验：来料的质量控制和ROHS符合性，如回收聚合物，添加剂，纤维。 过程控制 ...

... 我们邀请您参加我们的特别活动，重点介绍 Epsilon Xline - 我们的在线 X 射线荧光创新技术，它将彻底改变卷对卷生产中的材料使用、成本效率和产品质量。 我们将邀请 Epsilon Xline 的两位幕后人员进行动态圆桌讨论：产品经理 Michel Zoontjes 和机电工程经理 Chris Gortemaker。他们将分享 Epsilon Xline 背后的愿景和目的，以及使其成为可能的技术创新。 您将了解到 - 如何在提高质量的同时优化材料使用并降低成本 - ...

... WDXRF光谱仪可同时测量多达28种元素，浓度范围从ppm到100%，是理想的解决方案。准确而稳健的分析、经验不足的工作人员易于操作、高运行时间与低拥有成本并驾齐驱。 快速获得时间关键型应用的结果 Axios FAST 元素分析仪只需几秒钟即可获得分析结果，是时间关键型应用和高样品处理量分析环境的理想工具。主要应用领域包括钢铁与金属合金生产，以及每天需要分析数百样品的地质或商业实验室。 特点 高样品处理量 凭借高速样品处理和操作可靠性，Axios ...

波长: 785 nm
长度: 520 mm
宽度: 810 mm

... 并可通过拉曼光谱技术(MDRS)在一次测量中实现单个颗粒的化学识别。自动化的SOP驱动操作以一种简单的方式控制样品分散、形态学和化学分析。它还以清晰的途径提供可靠且独立与操作员的结果。易于定制适合每种样品的光谱采集条件，从而可测量热敏物质以及弱拉曼散射体。形态特性与化学信息的简单关联为客户提供有关样品的全面理解。 概述 MDRS ...

... 此外还包含 SumXcore，它为传统应用带来了明显优势，例如缩短分析时间、发现预期外元素和光谱存档。 通过使用 ED core（能谱核）增加了微小区域分析选项，从而允许进行实用而又省时的数据采集。 ED core（能谱核）在每个区域测量的完整光谱可以大大缩短测量时间，并允许进行无标定量数据采集。 特点 灵敏度与处理量 ...

... 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圆分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计，该仪器可为多种晶片（厚达 300 mm）测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。 持续的性能和速度 4 kW SST-mAX X 射线管配备了突破性的 ZETA 技术，可以消除 X 射线管老化效应。 这种“全新射线管”性能可以在 X 射线管整个寿命期间得到保持，同时高灵敏度与 ZETA 技术相结合，确保了在 X ...