Jeol自动化显微镜

... 信号深度显示 ♦ 点击下面按钮，开始播放 (约1分) ♦ 在操作导航GUI里增加了【信号深度显示】功能，实时了解在测样品的分析深度（参考），有效用于元素分析中。 5. 自动电子束对中 (ABA) ♦ 点击上面按钮，开始播放 (约1分) ♦ 电子束的轴偏离时，自动调整对中功能 6. 用蒙太奇功能进行广域观察与分析 蒙太奇就是一种拼接功能，能够将广域内采集到的所有图像拼接成一个高清图像。 ...

JSM-IT210是日本电子制造的最小巧的落地型扫描电子显微镜。 5轴马达驱动使得操作更安心和快速；而且因为装有“Simple SEM”，只需选好微区就能自动观察和分析。 JSM-IT210是一款小巧的可无人操作的新一代SEM。 产品特点 数据采集简单！ JSM-IT210是日本电子制造的最小巧的落地型扫描电子显微镜。 5轴马达驱动使得操作更安心和快速；而且因为装有“Simple ...

... 必须快速检查制备进度。JIB-PS500i 采用高倾斜平台和探测器方案，可实现从 FIB 铣削到扫描透射电子显微镜 (STEM) 成像的无缝过渡。薄片加工和 STEM 成像之间的快速转换可实现高效的试样制备。 自动制备 JIB-PS500i 使用 STEMPLING2* 自动 TEM 样品制备系统自动制备样品。该自动系统使任何操作人员都能顺利制备 ...

... 而且零损失像的色差低、衬度高。 4. 用于单颗粒分析的自动图像获取软件 单颗粒分析用自动图像获取软件。能够自动地检出样品栅格小孔，有效采集单颗粒图像。 5. 无孔位相板（选配件）*1 该无孔位相板对提高生体样品的衬度特别有效。 6. 自动调整功能*2 可以使用自动聚焦、自动无像差校准、自动平行光等自动调整功能，在优化条件下获取图像。 相关链接 ...

空间分辨率: 0.08 nm - 0.23 nm

... 均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。 产品特点 “NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，采用日本电子独自开发的像差校正算法，可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像 ...

空间分辨率: 0.14 nm - 0.31 nm

以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 产品特点 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 ...

... 或分析结果报告等，通过从 OM 到 SEM 的集成转换提供快速分析。 快速观察、分析和生成报告！ JEOL InTouchScope™ 系列是一种高性能分析工具，具有三大功能。 样品交换导航：从样品引入到观察的指导操作 逐步指导样品交换、条件设置和自动成像。 快速观察！"Zeromag 您可以通过主屏幕上显示的 Holder Graphics 或光学 CCD 图像*1 定位试样区域或指定分析位置。 快速分析！"实时分析 ...