Jeol实验室显微镜

CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜，专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品，可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。 与上一代CRYO ARM™ 300相比，具有更高的稳定性、效率和易用性。此外，该系统集多种功能于一体，可以处理从筛样到数据采集的整个过程，从而更灵活地为客户实现量身定做的使用体验。这些改进使用户可以通过简单的操作获得高质量的图像，初学者也可轻松上手。 产品特点：高效、易于操作且随时提供高质量图像 ...

... 元素面分析。 2. 新型屏蔽体 TEM柱采用箱式外壳，可减少温度、气流、噪声等环境变化的影响，从而提高显微镜的稳定性。 3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™ 快速准确的像差校正 4. 稳定性提高 CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了发射体附近的真空、发射电流、探针电流的稳定性。其他改进也提高了显微镜的稳定性和对各种干扰的抵抗力。

... 300nA（之前的15倍），可提供丰富的观测和分析信息，用户界面操作简单、设计紧凑、配备大样品室。 产品特点 日常使用的SEM，好用！ 随着技术的不断创新，观察的样品也越来越小，微小样品的测定已经常态化。 基于此，浸没式热场发射扫描电子显微镜InTouchScope™系列 JSM-IT700HR诞生了。 该设备最高分辨率1nm、最大探针电流300nA（之前的15倍），可提供丰富的观测和分析信息，用户界面操作简单、设计紧凑、配备大样品室。 ...

JSM-IT210是日本电子制造的最小巧的落地型扫描电子显微镜。 5轴马达驱动使得操作更安心和快速；而且因为装有“Simple SEM”，只需选好微区就能自动观察和分析。 JSM-IT210是一款小巧的可无人操作的新一代SEM。 产品特点 数据采集简单！ JSM-IT210是日本电子制造的最小巧的落地型扫描电子显微镜。 5轴马达驱动使得操作更安心和快速；而且因为装有“Simple ...

... 铣削到扫描透射电子显微镜 (STEM) 成像的无缝过渡。薄片加工和 STEM 成像之间的快速转换可实现高效的试样制备。 自动制备 JIB-PS500i 使用 STEMPLING2* 自动 TEM 样品制备系统自动制备样品。该自动系统使任何操作人员都能顺利制备 TEM 标本。 高分辨率和高同步扫描电子显微镜成像 不要再犹豫不决，不要再错过铣削终点。高质量的扫描电镜图像为您提供帮助。 - 信号检测系统 提供多种探测器，包括标准 ...

场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统，能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内最多可以存储12个样品，可以任意取出和交换一个或数个样品，能灵活地进行测试排序。 产品特点 场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统，能够在冷冻低温下观察生物大分子 ...

空间分辨率: 0.08 nm - 0.23 nm

“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。 产品特点 “NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，采用日本电子独自开发的像差校正算法，可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像。此外，新型STEM检测器不依赖于加速电压就可以获得高衬度的轻元素图像。因此，利用能增强轻元素衬度的新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。 为了响应近来已成为主流的远程操作的需求，NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式，主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色，设计精炼时尚。 ...

空间分辨率: 0.23, 0.19, 0.14, 0.16 nm

以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 产品特点 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 ...

空间分辨率: 0.14 nm - 0.31 nm

以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 产品特点 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 ...

倍率: 50 unit - 1,500,000 unit
空间分辨率: 0.1 nm - 0.31 nm

... JEM-2200FS 是最先进的分析型电子显微镜，配备了 200kV 场发射枪（FEG）和柱内能量滤波器（Omega 滤波器），可实现零损耗图像，消除非弹性电子，从而获得高对比度的清晰图像。利用低损耗或核心损耗能量的电子形成的能量滤波图像可提供样品的化学状态或元素信息。此外，还提供用于元素分析和试样化学分析的光谱技术。 功能特点 - 柱内能量滤波器（欧米茄滤波器） 柱内能量滤波器可让您获得能量滤波图像和电子能量损失光谱。经过优化设计的滤波器可提供无失真滤波图像。 - ...