{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜，专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品，可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。 与上一代CRYO ARM™ 300相比，具有更高的稳定性、效率和易用性。此外，该系统集多种功能于一体，可以处理从筛样到数据采集的整个过程，从而更灵活地为客户实现量身定做的使用体验。这些改进使用户可以通过简单的操作获得高质量的图像，初学者也可轻松上手。 产品特点：高效、易于操作且随时提供高质量图像 ...
Jeol
... 1. FHP2 新型物镜极靴 保证超高空间分辨率观察的同时，优化FHP物镜极靴的形状以满足大尺寸双SDDs（158mm2）的需求，x射线有效检测效率提高了两倍以上，实现亚埃级分辨率的EDS元素面分析。 2. ...
Jeol
... 该设备最高分辨率1nm、最大探针电流300nA（之前的15倍），可提供丰富的观测和分析信息，用户界面操作简单、设计紧凑、配备大样品室。 产品特点 日常使用的SEM，好用！ 随着技术的不断创新，观察的样品也越来越小，微小样品的测定已经常态化。 基于此，浸没式热场发射扫描电子显微镜InTouchScope™系列 JSM-IT700HR诞生了。 该设备最高分辨率1nm、最大探针电流300nA（之前的15倍），可提供丰富的观测和分析信息，用户界面操作简单、设计紧凑、配备大样品室。 ...
Jeol
... ① 按照导航指示放入样品 ② 利用抽真空的间隙做好观察准备 ③ 自动开始观察 2. 无需放大光学图像，SEM像“Zeromag“联动 “Zeromag”是样品台示意图、光学图像和SEM像联动功能，样品台上放置多个样品或观察特定位置时，很容易找到要观察的区域。 3. 观察过程中实时进行元素分析“Live ...
Jeol
... 必须快速检查制备进度。JIB-PS500i 采用高倾斜平台和探测器方案，可实现从 FIB 铣削到扫描透射电子显微镜 (STEM) 成像的无缝过渡。薄片加工和 STEM 成像之间的快速转换可实现高效的试样制备。 自动制备 JIB-PS500i 使用 STEMPLING2* 自动 TEM 样品制备系统自动制备样品。该自动系统使任何操作人员都能顺利制备 TEM 标本。 高分辨率和高同步扫描电子显微镜成像 不要再犹豫不决，不要再错过铣削终点。高质量的扫描电镜图像为您提供帮助。 - ...
Jeol
场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统，能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内最多可以存储12个样品，可以任意取出和交换一个或数个样品，能灵活地进行测试排序。 产品特点 场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ...
Jeol
空间分辨率: 0.08 nm - 0.23 nm
... 的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。 产品特点 “NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，采用日本电子独自开发的像差校正算法 ...
Jeol
空间分辨率: 0.14 nm - 0.31 nm
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 产品特点 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 ...
Jeol
倍率: 10 unit - 1,500,000 unit
空间分辨率: 0.14, 0.2 nm
... 相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子显微镜。 产品特点 从生物技术到纳米技术、高分子和高新材料，JEM-1400Flash被广泛应用在多个领域，而且用途越来越广。其中，以生物领域为首的高分子材料研究、医疗品、病理切片、病毒、由荧光显微镜做过标记的样品等的观察，首先用低倍率确认细胞组织或材料结构、样品位置、观察区域的整体情况，再用高倍率详细观察感兴趣的微细结构。 近年来，对于这一系列的观察程序的简单化和快速获取高通量数据的需求越来越迫切 ...
Jeol
... 可提供从试样装载到区域搜索和 SEM 图像观察的指导性操作。"Zeromag "可实现从光学成像到扫描电镜成像的无缝转换，"Live Analysis "*2可实时显示元素分析结果，SMILE VIEW（TM）实验室，可无缝生成观察和/或分析结果报告等，通过从 OM 到 SEM 的集成转换提供快速分析。 快速观察、分析和生成报告！ JEOL InTouchScope™ ...
Jeol
请说明：
您的建议是我们进步的动力：
剩余字数