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... 电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营，确保高质量并避免昂贵的返工。 电力和电子组件的电镀 零件必须在规格范围内被电镀，以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的X-Strata系列产品 ，可以测量小的试片或连续带状样品，从而达到 引线框架（引线框架）、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。 IC 载板 半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。 ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
OE720和OE750是突破性的OES金属分析仪。其涵盖了金属*元素的全部光谱，并具有同类产品中较低的检出限。 由于行业法规日益严格，供应链变得复杂以及更多地使用废料作为基础材料，因此铸造厂和金属制造商必须将杂质和痕量元素控制在最低ppm范围内。在过去，这一级别的OES对许多企业而言是遥不可及。日立分析仪器推出的OE系列可改变这一现状。 日立直读光谱仪可用于分析所有主要合金元素，并识别金属中含量较低的杂质、痕量元素和关心元素，OE750还覆盖了罕见的应用，例如铜中的氧气和钛中的氧气、氮气和氢气 ...
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... 2.0 指令的产品。 HM1000A 采用先进的 APCI（大气压化学电离）和质谱技术，快速而低成本地测定样品中邻苯二甲酸酯的总量。如果总量超过 RoHS 2.0 规定的数值，则可以使用更精准的方式进一步分析。 HM1000A 筛选出的达标样品不需要进一步分析，有助于减少精准分析所耗费的大量时间和成本。 单个试样 10 分钟内测完 HM1000A ...
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XRF分析（X射线荧光）具有高度灵活和强大的能量分散X射线荧光（EDXRF）光谱仪X-Supreme8000和Lab-X5000，用于各种应用的质量保证和过程控制要求，例如石油、木材处理、矿物、采矿、化妆品、水泥、纸张。 你可以信任的结果 一个集成的样品旋转器在测量过程中旋转样品，确保结果是可重复的，即使对于不均匀的样品，如粉末。 减少用户错误：分析仪易于使用，简单的一键启动，直观的用户界面和大面积易于阅读的显示器。 快速质量控制 快速分析意味着我们的分析仪可用于多个生产阶段 ...
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EA1000AIII和EA1400 XRF分析仪专为RoHS（有害物质限制）设计，15年来一直受到信任，为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量，您可以确保能够满足环境法规的要求。 操作方便 自动采样 灵活校准以适应新的RoHS标准 自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果 快速测量 大样品舱满足各种样品 视听测量指示器 添加镀层和元素分析的选项 探测器：硅半导体检测器（无需液氮） 塑料中Cd、Pb、Hg、Br、Cr的测量时间*：小于70 ...
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EA1000AIII和EA1400 XRF分析仪专为RoHS（有害物质限制）设计，15年来一直受到信任，为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量，您可以确保能够满足环境法规的要求。 操作方便 自动采样 灵活校准以适应新的RoHS标准 自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果 快速测量 大样品舱满足各种样品 视听测量指示器 添加镀层和元素分析的选项 探测器：SDD（无需液氮） 元素范围：Al（11）至U（92） 样品状态：固体/粉末/液体 ...
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... 电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营，确保高质量并避免昂贵的返工。 电力和电子组件的电镀 零件必须在规格范围内被电镀，以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的X-Strata系列产品 ，可以测量小的试片或连续带状样品，从而达到 引线框架（引线框架）、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。 IC 载板 半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。 ...
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... 电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营，确保高质量并避免昂贵的返工。 电力和电子组件的电镀 零件必须在规格范围内被电镀，以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的X-Strata系列产品 ，可以测量小的试片或连续带状样品，从而达到 引线框架（引线框架）、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。 IC 载板 半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。 ...
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... 电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营，确保高质量并避免昂贵的返工。 电力和电子组件的电镀 零件必须在规格范围内被电镀，以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的X-Strata系列产品 ，可以测量小的试片或连续带状样品，从而达到 引线框架（引线框架）、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。 IC 载板 半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。 ...
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FOUNDRY-MASTER Smart是金属生产和加工行业的理想解决方案，可提供经济高效且可靠的分析。 这款新一代的直读光谱仪以非常紧凑的尺寸提供了高分析性能。 这款OES火花光谱仪的启动和测量时间非常短，可通过氮气分析识别双相钢，并具有独特的火花台，可从三个侧面进行操作。 结构紧凑 占地面积仅为415 x 665毫米，重量仅为35千克，使操作变得容易 性价比高 强大的专利光学技术具有出色的分析性能，包括鉴定双相钢中的氮 更多优势 极短的启动和测量时间，报告格式多样， ...
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