Hitachi/日立高解析度显微镜

倍率: 5 unit - 600,000 unit
空间分辨率: 2.5, 0.9 nm

... 日立 SU3800SE 和 SU3900SE 扫描电镜为各种应用提供了多功能成像和分析解决方案。这些仪器具有高分辨率成像、直观导航和先进的自动化功能，可在研究和工业环境中提供可靠、一致的结果。它们的灵活性支持标准样品和大型工业样品的高效工作流程，提高了生产率和可重复性。 主要功能 灵活的样品处理 SU3900SE：可处理直径达 300 毫米、高度达 130 毫米、重量达 5 公斤的大型样品。其重型微心五轴平台可对汽车零件等工业材料进行成像，无需调整尺寸，省时省力。可容纳多个样品进行自动检测。 SU3800SE：支持直径达 ...

空间分辨率: 1.2 nm

操作高效便捷 创新的“EM Wizard”界面更加直观，仅需要“点击”即可得到理想的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平 高性能电子光学系统 • 二次电子分辨率: 顶位二次电子探测器(2.0 nm at 1kV)＊ • 高灵敏度: 高效PD-BSD, 超强的低加速电压性能，低至100 V成像 • 大束流(>200 nA): 便于高效微区分析 性能优异 • 压力可变: 具有优异的低真空(10 -300 Pa)成像性能，配备高灵敏度低真空探测器(UVD)＊ • ...

倍率: 5 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 15, 4, 3 nm

集优异性能、操作简便性、多样化功能于一身 日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性，结合众多的自动化功能，可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察。 ①SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察 ■样品台可搭载超大/超重样品 • 通过更换样品提示，可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品 • 选配样品交换仓，可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品，大大提高了工作效率 • 具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度* • ...

倍率: 6 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 4, 5, 15 nm

... 凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。 • 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜，仍可实现4.0 nm的分辨率 • 凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器（UVD*2），可在低加速/低真空下观察时实现最高的画质 • ...

倍率: 10 unit - 25,000,054 unit
重量: 54 kg
长度: 614, 617 mm

台式扫描电子显微镜(SEM)全新升级。 我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念，开发出TM4000系列。在此基础上，我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。 为您提供全新的观察和分析应用。 观察图像3分钟。可迅速获得所需数据，并制作报告。 观察与分析的灵活性 自动获取各类数据。快速切换！ 可快速获得元素分布图 * 使用Camera Navi*的话，就是如此简单 Camera Navi图像让您轻松找到视野，分布图(MAP)功能全程支持您的观察 操作简单且快捷 ...

倍率: 20 unit - 8,000,000 unit
空间分辨率: 0.08, 0.1 nm

... 相差校正TEM/STEM，平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能 通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。 透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的具有扫描透射电子显微镜“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自动校正功能，像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射电子显微镜HF系列中所积累的技术。 对于包括高端用户在内的广泛用户，我们提供亚Å级空间分辨率和高分析性能以及更多样化的观察和分析方法。 ※附带第二显示器（可选） ...

倍率: 1,000,000, 800,000, 600,000 unit
空间分辨率: 0.2, 0.14, 0.19 nm

以创新的操作性，满足广泛领域的需求。 新一代TEM"RuliTEM"诞生。 ～从生物医学到材料领域～ "RuliTEM"120 kV透射电子显微镜系列，包含配备高衬度透镜，实现大视野、高对比度观察的HT7800和配备高分辨率透镜的HT7830。 全新操作可应对日常工作。 我们将竭诚为您提供合适的TEM解析解决方案。 特点 • 日立的双隙物镜设计，支持低倍率下的大视野高反差观察与高分辨率观察 • ...

重量: 990 kg
宽度: 1,190 mm
高度: 1,800 mm

... X、Y 和 Z 轴探针移动装置，可以非常精确地控制探针，以测量单个 MOS 晶体管的电气特性。 设计理念是创建一个易于使用的探测系统（如光学探测系统），同时通过我们直观的探头操作设计，即使在真空环境下也能保持同样的易操作性。 - 这种基于扫描电子显微镜的探测系统用于分析任何纳米级半导体器件制造过程中可能出现的缺陷和故障。 - NP6800 Nano-Prober 采用了优化的冷场发射电子源、八探针系统、-40 华氏度至 302 ...