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... 100高精度粗糙度轮廓测量仪是一款集成表面粗糙度和轮廓测量的测量仪器；采用超高精度衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能伺服驱动电机、高性能计算机控制系统技术，实现对工件表面粗糙度和轮廓进行高精度测量和分析。通过超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能伺服驱动电机保证测量的超高稳定性及直线度，采用超高精度定制进口光学测量系统建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机采用超高精度的标定系统通过修正算法对采样数据进行修正，最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓及微观轮廓进行各种粗糙度参数 ...
Chotest Technology Inc.
... 1.表面轮廓评价。可以评价半径、角度、距离、坐标、圆、圆形截面，并确定各点、各相交点、坐标轴、直线、垂直线、圆、圆形截面，分析轮廓的直线度、圆度。 更多的功能。 (1)建立回归线和圆 (2)建立点、相交点、自由点、中心点、最高点和最低点 (3)建立坐标系 (4)计算半径、距离、角度、坐标和线性偏差 (5)比较实际值和名义值 (6)测量程序自动运行 2.SJ5701可以评估表面粗糙度。Ra, ...
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... SJ5780-200 双向扫描轮廓测量仪是一款大范围、高精度的主动扫描式综合轮廓测量仪。该仪器 X 轴、Z 轴采用独立运动系统，利用先进的双轴联动运动控制算法，可实现 X、Z 双轴联动扫描，测量测针在工件表面做仿形扫描（主动扫描），既保持了恒定的测量力，又保证了大量陡坡通过的能力，工件找平操作简单，同时避免了崩针、挂销等问题。它可以在很宽的满量程范围内连续扫描，并具有数百毫米的连续爬坡能力，非常适合测量各种陡坡，大型工件无需翻转或倾斜调整即可轻松测量。 ...
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... SJ5780-300 双向扫描轮廓测量仪是一款大范围、高精度的主动扫描式综合轮廓测量仪。该仪器 X 轴、Z 轴采用独立运动系统，利用先进的双轴联动运动控制算法，可实现 X、Z 双轴联动扫描，测量测针在工件表面做仿形扫描（主动扫描），既保持了恒定的测量力，又保证了大量陡坡工件通过时的调平能力，操作简单，同时避免了崩针、挂销等问题。它可以在很宽的满量程范围内连续扫描，并具有数百毫米的连续爬坡能力，非常适合测量各种陡坡，大型工件无需翻转或倾斜调整即可轻松测量。 ...
Chotest Technology Inc.
... SJ5780-400 双向扫描轮廓测量仪是一款大范围、高精度的主动扫描式综合轮廓测量仪。该仪器 X 轴、Z 轴采用独立运动系统，利用先进的双轴联动运动控制算法，可实现 X、Z 双轴联动扫描，测量测针在工件表面做仿形扫描（主动扫描），既保持了恒定的测量力，又保证了大量陡坡工件通过时的调平能力，操作简单，同时避免了崩针、挂销等问题。它可以在很宽的满量程范围内连续扫描，并具有数百毫米的连续爬坡能力，非常适合测量各种陡坡，大型工件无需翻转或倾斜调整即可轻松测量。 ...
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... 自动获取图案化形貌区域的三维信息（高度、宽度、面积、体积、粗糙度、倾角等），同时具有自动统计分析功能。 4）具备各种类型样品表面微观形貌的3D轮廓重建与测量功能； 5）具备表面粗糙度和微观轮廓的检测功能，粗糙度范围涵盖0.1nm到数十微米的级别； 6）具备校平、去除形状、去噪、滤波等数据处理功能； 7）具备粗糙度分析、轮廓分析、结构分析、功能分析等表面参数分析功能； 8）具备自动对焦、自动测量、自动多区域测量、自动拼接测量等自动化功能； 9）具备一键分析、多文件分析等快速 ...
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... 自动获取图案化形貌区域的三维信息（高度、宽度、面积、体积、粗糙度、倾角等），同时具有自动统计分析功能。 4.一体化操作的测量与分析软件，操作无须进行切换界面，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能。 5.测量中提供自动多区域测量功能、批量测量、自动聚焦、自动调亮度等自动化功能。 6.测量中提供拼接测量功能。 7.分析中提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能，其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波 ...
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... 可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 二、产品功能 1）样件测量能力：满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量； ...
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... 纳米三维光学表面轮廓仪 SuperView W1 产品型号： SuperView W1/W1-Pro 产品名称：纳米 3D 光学表面轮廓仪 标准视场角(0.98*0.98)mm 最大视场角(6x6)毫米 测试对象的反射率：0.5 % ~100 粗糙度 RMS 重复性：0.005 纳米 扫描范围：≤10 毫米 分辨率 0.1nm 平台测量精度 ...
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