Bruker轮廓测量仪

... ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地面积小，所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的专利白光干涉（WLI）创新技术，具有强大的二维/三维高分辨测量能力。新一代增强功能包括全新的 5MP 摄像头和更新平台，实现更多缝合功能，并新增一个测量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100 ...

... 全自动化解决方案 ContourX-1000三维光学轮廓仪 ContourX-1000落地式白光干涉仪（WLI）使获得高质量的三维区域表面纹理和粗糙度测量变得简单而快速。融合了30多年的创新和我们最新的专利软件和技术，该计量系统提供了布鲁克公司光学轮廓仪闻名的快速结果和可重复性，并提高了产量，甚至更容易操作。 ContourX-1000具有完全的自动化能力，直接的用户体验，以及精简的测量设置和分析配方，在几乎任何表面，由任何操作者提供最准确和精确的测量，甚至在多用户的大批量生产设施中。 专有的 硬件和系统特点 ...

ContourX-200 光学轮廓仪提供了高级表征能力、可选定制配件、和使用方便三者的完美融合，是同类产品中最快、最准确、可重复性最高的非接触式三维表面计量系统。该计量系统占地面积小，采用更大视场、5MP 数码摄像头和全新电动 XY 工作台，具有卓越的二维/三维高分辨测量能力。ContourX-200 拥有出色的 Z 轴分辨率和精确度，具备布鲁克专有白光干涉（WLI）技术广受业界认可的所有优势，而且不存在传统共聚焦显微镜和同类普通光学轮廓仪的局限性。 ContourX-200 ...

ContourX-500 光学轮廓仪是全球功能最全面的自动化台式系统，可快速完成非接触式三维表面计量。ContourX-500 具有卓越的 Z 轴分辨率和准确度，并具备布鲁克落地式白光干涉（WLI）仪器广受业界认可的所有优势，而占地面积更小。该款轮廓仪可轻松自主配置，适用于从精密加工表面和半导体工艺的质量保证／质量控制（QA/QC）计量到眼科和微机电系统（MEMS）器件的研发表征等广泛的复杂应用。 布鲁克专有的光学头倾斜/俯仰技术，为用户生产设置和检测提供极大的灵活度。布鲁克将自动倾斜/俯仰功能与显微镜头中的光路相结合 ...

DektakXT®探针式轮廓仪采用革命性的台式设计，可实现 4Å （0.4nm） 的无与伦比的重复性，扫描速度可提高 40%。探针式轮廓仪性能的这一重大里程碑是 Dektak® 五十多年创新和行业领导地位的顶峰。DektakXT 结合了行业第一的技术和设计，可提供极致的性能、易用性以及价值，实现从研发到质量控制的更好过程监控。DektakXT 的技术突破为微电子、半导体、太阳能、高亮度 LED、医疗和材料科学行业的关键尺寸的纳米级表面测量提供支持。 DektakXT ...

... Dektak XTL 成为功能最强大、最容易使用的探针式轮廓仪。该系统利用 Vision64 软件，通过数百种内置分析工具实现众多的测量位点、3D成像和高度自定义的特征分析。Vision64软件还能测量形状，如曲率半径。模式识别可最大限度地减少操作员误差并提高测量位置精度。集成化的软件包将数据收集和分析与直观的工作流程相结合。